掃描電鏡主要是用來觀察什麼？

掃描電鏡（SEM）電子顯微鏡是利用二次電子訊號成像來觀察樣品的表面形態。掃描電鏡（SEM）是介於透射電鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質效能進行微觀成像。

從原理上講，掃描電鏡是利用聚焦得非常細的高能電子束在試樣上掃描，激發出各種物理資訊。透過對這些資訊的接受、放大和顯示成像，獲得測試試樣表面形貌的觀察。

觀察奈米材料

所謂奈米材料就是指組成材料的顆粒或微晶尺寸在0。1-100nm範圍內，在保 掃描電鏡持表面潔淨的條件下加壓成型而得到的固體材料。奈米材料具有許多與晶體、非晶態不同的、獨特的物理化學性質。奈米材料有著廣闊的發展前景，將成為未來材料研究的重點方向。掃描電鏡的一個重要特點就是具有很高的解析度。現已廣泛用於觀察奈米材料。

材料斷口的分析

掃描電鏡的另一個重要特點是景深大，圖象富立體感。掃描電鏡的焦深比透射電子顯微鏡大10倍，比光學顯微鏡大幾百倍。由於圖象景深大，故所得掃描電子象富有立體感，具有三維形態，能夠提供比其他顯微鏡多得多的資訊，這個特點對使用者很有價值。掃描電鏡所顯示的斷口形貌從深層次，高景深的角度呈現材料斷裂的本質，在教學、科研和生產中，有不可替代的作用，在材料斷裂原因的分析、事故原因的分析以及工藝合理性的判定等方面是一個強有力的手段。

直接觀察原始表面

它能夠直接觀察直徑100mm，高50mm，或更大尺寸的試樣，對試樣的形狀沒有任何限制，粗糙表面也能觀察，這便免除了製備樣品的麻煩，而且能真實觀察試樣本身物質成分不同的襯度（背反射電子象）。

觀察厚試樣

其在觀察厚試樣時，能得到高的解析度和最真實的形貌。掃描電子顯微的解析度介於光學顯微鏡和透射電子顯微鏡之間，但在對厚塊試樣的觀察進行比較時，因為在透射電子顯微鏡中還要採用復膜方法，而復膜的解析度通常只能達到10nm，且觀察的不是試樣本身。因此，用掃描電鏡觀察厚塊試樣更有利，更能得到真實的試樣表面資料。

觀察各個區域的細節

試樣在樣品室中可動的範圍非常大，其他方式顯微鏡的工作距離通常只有2-3cm，故實際上只許可試樣在兩度空間內運動，但在掃描電鏡中則不同。由於工作距離大（可大於20mm）。焦深大（比透射電子顯微鏡大10倍）。樣品室的空間也大。因此，可以讓試樣在三度空間內有6個自由度運動（即三度空間平移、三度空間旋轉）。且可動範圍大，這對觀察不規則形狀試樣的各個區域帶來極大的方便。